複雑なDUTの製造テストに伴う課題を克服する方法

IoT、テクノロジコンバージェンス、音声制御などのトレンドにより、デバイス
はますます高機能になり、それに伴ってテストチームにプレッシャーがかかって
います。測定すべき新しい項目もなく、長い間変わらない。そんな単純なテス
トカバレッジ要件の時代はもう過ぎ去ってしまいました。貴社ではテスト工程の準備の複雑さがどのくらい変化したでしょうか。
DUTの機能強化によってテストの課題がどのように生じているのか、そうした課題の解決にNIがどのように役立つのかご紹介します。